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Instituto de Física UNAM | Monday, 19 September 2011
Infraestructura (LCM)





esporas en papel de documentos del año 1914

interfase en aleación Ni-Pt

 

 

Laboratorios de Apoyo

  • Preparación de muestras
  • Simulación y procesamiento de imágenes
  • Fotografía


Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-2010F FASTEM


Tipo FEG (cañón de electrones de emisión de campo ZrO2/W Schottky)
Voltaje de aceleración de 200 kV
Resolución punto a punto de 0.19 nm.

 



Imagen filtrada en energía y su análisis por
EELS en compuesto de Si


Técnicas disponibles

  • Microscopia por transmisión y barrido
    (STEM, Contraste-Z, GIF)
  • Difracción (micro- Dif, CBED)
  • Análisis químico por rayos-X característicos (EDS)
  • Espectroscopia de pérdida de energía
    de electrones (PEELS).
  • Holografía electrónica.
  • Mapeo de elementos.
  • Manejo de este equipo y envío de imágenes vía Internet (FASTEM).

Microscopio Electrónico de Transmisión de Alta Resolución
JEM-4000EX


Voltaje de aceleración de 400 kV
Resolución punto a punto de 0.17 nm.




Nanopartícula bimetálica NiPt, simulación
de imagen y transformada de Fourier




Técnicas disponibles

  • Microscopia electrónica de alta resolución.
  • Difracción electrónica.
  • Espectroscopia de pérdida de energía
    de electrones (PEELS).




Estructuras de carbón en aerosoles
atmosféricos
Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-100CX


Voltaje de aceleración máximo de 100 kV
Resolución punto a punto de 0.4 nm.

 

 

Técnicas disponibles

  • Microscopia electrónica de campo claro.
  • Microscopia electrónica de campo obscuro.
  • Difracción electrónica.

Nano-partículas de Pt en SiO2



Patrón de difracción de área selecta de aerosoles atmosféricos

Accesorios

  • Unidad STEM.
  • Porta-muestras de doble inclinación (±60°).
  • Porta- muestras de calentamiento (hasta 800°C).
  • Porta-muestras para estudios de elongación.

Microscopio de Fuerza Atómica JSPM-4210


Las muestras se pueden analizar a presión atmósferica y hasta 10-6 torr. Tamaño máximo de la muestra 10 mm x 10 mmx 3mm. Resolución vertical 0.001 nm, horizontal 0.1 nm.


Cúmulos triangulales de Au en sustrato de mica



Técnicas disponibles

  • Microscopia de Barrido de Tunelaje (STM).
  • Modos de contacto y no contacto.
  • Modo de contacto intermitente.
  • Modo fase.
  • Mapeo topográfico de superficies.
  • Medidas de rugosidad.
  • Microscopía de fuerza magnética.
  • Fuerza lateral.
  • Medidas de modos oscilantes y de diferencia
    de fase.
Microscopio Electrónico de Barrido JSM 5600-LV


Voltaje de aceleración máximo de 30 kV.
Resolución de 3.0 nm en modo de alto vacío y 5 nm en modo de bajo vacío (1 a 270 Pa).

 

Técnicas disponibles

  • Obtención de imágenes en modo de electrones secundarios, retrodispersados y mezcla de ellos.
  • Obtención de imágenes en modo de alto vacío y bajo vacío.
  • Análisis químico elemental por la técnica de EDS.
  • Mapeo químico de elementos.
  • Barrido de elementos en línea (“line scan”).




Cristales de molibdeno (Mo)



Flor margarita

Microscopio Electrónico de Barrido JSM 5200 CX


Voltaje de aceleración máximo de 30 kV.
Microscopio de alto vacío con resolución de 3.0 nm




Biomaterial crecido sobre soporte de titanio (Ti)




Técnicas disponibles

  • Obtención de imágenes en modo de electrones secundarios.
  • Obtención de imágenes en modo de electrones retrodispersados.



Micrografía del ojo de una mosca

 
informe 2009 Guillermo Monsivais
informe 2008 Guillermo Monsivais
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